GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
现行
| 标准号 | GB/T 5594.2-1985 |
|---|---|
| 标准名称 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 |
| 中国标准分类号（CCS） | L32 |
| CCS分类名称 | 电子元器件与信息技术 |
| 国际标准分类号（ICS） | - |
| ICS分类名称 | - |
| 发布日期 | 1985-11-27 |
| 实施日期 | 1986-12-01 |
| 归口部门 | 工业和信息化部（电子） |
| 发布单位 | 国家标准局 |